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yohan fuchs

candidat doctorat de physique

42 ans
Permis de conduire
Situation professionnelle
En recherche d'emploi
En simple veille
Présentation
short term aim: instrumental R&D project
mid term aim: PhD candidate in physics.


Connaissance de la physique à l'échelle nanoscopique, nanotechnologies, instrumentation et optique quantique,
Motivation pour la manipulation de molécule unique,
Motivation pour la manipulation d'atome unique, piégeage et refroidissement, propagation des ondes de matière
CV réalisé sur DoYouBuzz

Alternance Master2 Développement Instrumental pour les Micro et Nanotechnologies

European Synchrotron Radiation Facility ESRF - Surface Sciences Laboratory
Septembre 2014 à octobre 2015
Contrat de professionnalisation
grenoble
France
  • Projet de Recherche et Développement scanner XYZ de microscope à force atomique pour ligne de rayonnement synchrotron
  • Installation microscope Xrays-AFM et mesures sur la ligne ID13 de l'ESRF: imagerie in situ des dégâts radiatifs sur la matière biologique
  • En charge du service d'imagerie par microscopie AFM du European Photon and Neutron Campus (ESRF,ILL, EMBL, IBS)
Détails de l'expérience
  • Imagerie AFM in situ des dégâts radiatifs au cours de l'irradiation X sur la ligne ID13b-nanobeam (spot du faisceau X 100nm)
  • Imagerie pour l'archéologie: foraminifères, action de nanoparticules sur les bois et pierres archéologiques
  • Imagerie pour la médecine: ADN, lipides, cellules, amiante et nanotubes de carbone dans les cellules pulmonaires
  • Instrumentation des microscopes à force atomique AFM, modes d'imagerie contact, AM-AFM et bimodal, nanomécanique
  • Instrumentation, laser et détection interférométrique, traitement du signal, détection synchrone et asservissement
  • Ingénierie mécanique, actionneurs piézoélectriques, CAO et simulations statiques et dynamiques sous SolidWorks
  • Service d'imagerie AFM du campus EPN, contact local et formation des utilisateurs, consommables, plannings et statistiques
  • Imagerie pour l'optique et la neutronique: réseaux de silicium, dépôts de nanoparticules et aggrégats métalliques,
  • Bibliographie High Speed AFM (goupe de P. Hansma), synthèse des objectifs et contraintes, rédaction des cahiers des charges